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Thema: Auswirkungen der Parameter auf Hell/Dunkeltests

  1. #1
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    Hallo,
    ich habe eine Frage zu den allgemeinen Hell-/Dunkeltests bei den F-Baugruppen. Nach mehreren Handbüchern die ich durchgewälzt inklusive unserer werten Hilfefunktion bin ich einfach nicht schlauer geworden.
    Kann mir irgendjemand sagen wie sich verschiedene Parameteränderungen auf die Hell/Dunkeltests auswirken? Zum Beispiel wenn die Geberversorgung der Baugruppe aktiviert wird das der Helltest automatisch deaktiviert wird etc.
    Vielen Dank im Voraus
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  2. #2
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    Hallo

    Ich kenne die Funktion Helltest nur von F - Ausgängen.
    Dabei wird der Ausgang für kurze Zeit Ein oder Ausgeschalten, damit ein Fehler am Ausgang erkannt wird (Drahtbruch).
    Dies kann zu Problem führen, wenn diese kurze Ausschaltzeit von den Aktoren erkannt wird.
    Wie sich das bei Gebern verhält kann ich die nicht sagen.
    Grüße

  3. #3
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    Ja das ist soweit ganz richtig, nur muss es da irgendwie des öfteren Probleme geben mit diesen Tests, habe die allgemeinen Probleme auch schon rausgefunden wie zum Beispiel Kurzschluss des Ausgangs oder so etwas in der Art.
    Mein eigentliches Problem bezieht sich darauf das wenn ich jetzt zB die Baugruppenversorgung mit aktiviere dann zB der Helltest automatisch deaktiviert wird. Zusätzlich dazu kommt noch das man ja den Bitmustertest auch runter"setzen" kann was soviel bedeutet wie es wird nicht mehr aller 15 Minuten getestet sondern aller einer Minute.
    Das Problem lässt sich irgendwie verdammt schwer richtig erklären

  4. #4
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    Welche Allgemeinen Probleme gibt es dabei?
    Bei einen Kurzschluss soll dieser ja über die F - Ausgängskarte erkannt werden.
    Bei welchen Karten hast du das Problem, dass sich der Helltest automatisch deaktiviert?
    Die Ausgangskarten machen nach einer fixen Zeit den Hellteste bei allen Ausgängen der Karte nacheinander, bei der Reihenfolge bin ich mir nicht sicher. Dass man diese "Pausenzeit" einstellen kann ist mir neu, bzw für was würde man das benötigen?

  5. #5
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    Benötigt man zB um diese Testzeit etwas zu verkürzen wenn man etwas schauen möchte. Ich mein 15 Minuten warten bis der Test durchgelaufen ist nur weil man etwas sehen will..bisschen viel meinst nicht auch? Ja wie gesagt durch den Helltest kann einfach aufploppen das ein Kurzschluss des Ausgangs nach M ist oder das der Ausgangstreiber defekt ist.
    Wie auch immer ich weiss nur das man durch verschiedene Parameter die Tests beeinflussen kann in dem Sinne das entweder ein Test komplett nicht mehr durchläuft oder sonstiges. Und da die Siemensentwicklung die kompletten Beschreibungen zu diesem Testablauf nicht freigibt such ich nun nach weiteren Informationen dazu

  6. #6
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    Kann mir vllt jemand kurz erklären wozu es die Rücklesezeit bei den Helltests gibt? Ich erkläre mir das so, dass die Rücklesezeit in dem Fall einfach nur die Dauer ist in der der Helltest aktiviert wird - liege ich damit halwegs richtig?

  7. #7
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    Hallo!

    Muss das Thema noch einmal aufgreifen.
    Folgendes Problem:
    Ich habe eine F-DQ 4x24VDC/2A PM HF (6ES7136-6DB00-0CA0) und möchte damit Relais schalten.
    Die Relais werden zweikanalig, also über den P-Kanal und den M-Kanal (wie auf Seite 31 der Bauteildoku) geschaltet.

    Nun sind die Relais derart flink, dass sie beim Dunkeltest (bei dem ich lediglich die maximale Rücklsesezeit in der HW-Konfig von TIA verstellen kann) abschalten.
    Kann ich wo die Zeit des Dunkeltests kürzer stellen? In der Doku ist des öfteren davon die Rede, dass ich die Testzeit oder auch Rücklesezeit einstellen kann.
    Ich finde aber nur die Einstellungen für die maximale Rücklesezeit Dunkeltest.
    Egal ob die nun auf 0.6ms (min) oder 400ms (max) stelle, meine Relais schalten trotzdem kurzzeitig.

    Könnt ihr mir hier helfen?

    mfg mephisto
    __________________________


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